| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSF-25-80-2UH | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 機械設備 | 應用領域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導體、機器人、機械設備 |
| 材質 | 鋼 | 是否進口 | 是 |
用測量顯微鏡測出被測要素上各點相對鋼絲的偏離量，從而得到被測實際直線，進而評定被測要素的直線度誤差。
用鋼絲法測導軌直線度誤差的一個方案。哈默納科雙頻激光諧波CSF-25-80-2UH測量時，調整鋼絲的兩端，使測量顯微鏡移到兩端點時的讀數相等。然后，在被測導軌的全長上等距移動測量顯微鏡，并記錄下各位置上的讀數，這一系列讀數值描述出導軌由形面構成的實際直線，進而可按要求評定該實際直線的直線度誤差。
C3>雙頻激光干涉儀測量用雙頻激光哈默納科雙頻激光諧波CSF-25-80-2UH干涉儀輔之以測量直線度的光學組件可以測某測量線上的被測實際直線，則按一定的布線方式亦可測出被測平面上各測點的坐標值;此外，用雙頻激光干涉儀輔之以測量角度的光學組件來測量角度的原理，可測出被測表面兩測點間高度差引起的角度變化，從而計算出兩點間的高度差。因此，也可像自準直儀一樣，通過一定的布點方式及測得值的數據轉換得到被測實際平面各測點的坐標值。
雙頻激光干涉儀測量平面度比水平儀和自準直儀測量直線度的精度更高，若與計算機聯接
通過一定的布點方式及測得值的數據轉換得到被測實際平面各測點的坐標值。
雙頻激光干涉儀測量平面度比水平儀和自準直儀測量直線度的精度更高，若與計算機聯接
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